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介電常數(shù)測定儀的應(yīng)用及特點您了解嗎？LJD-B主機和LJD-C主機主要區(qū)別 LJD-B主機 LJD-C主機 測試頻率范圍 10kHz～70MHz/110MHz 100kHz～160MHz 主調(diào)電容控制 傳感器 步進馬達 電容搜索 無 有

介電常數(shù)測試儀您了解多少？實心電絕緣材料的交流損耗特性和 電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法1 本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數(shù)字為上一次重新確認的年號。上標符號（ε）表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 1．Q值測量 a．Q值測量范圍：2～1023； b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

介電常數(shù)測試儀詳細介紹有時在超過1000V的電壓下試驗，則會引起一些與電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)無關(guān)的效應(yīng)，對此不予論述。

介電常數(shù)測定儀（介質(zhì)損耗測試儀）電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法1 本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數(shù)字為上一次重新確認的年號。上標符號（ε）表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高頻 Q 表作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。 LJD-C高頻 Q 表采用了多項技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能

介電常數(shù)測定儀源頭符合標準：GB/T1409、GB/T5594 產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試 適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等 測試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ